10.08.2010 News: Partikelmesstechnik in Theorie und Praxis

Dieses Seminar wird von Retsch Technology veranstaltet und vermittelt einen umfassenden Überblick über die modernen technischen Lösungen und Verfahren der Korngrößencharakterisierung: vom Nanopartikel bis zum Kieselstein. Zu diesem Zweck werden die unterschiedlichsten Messverfahren in Theorie und Praxis vorgestellt:

> Digitale Bildverarbeitung

> Laserbeugung

> Dynamische Laserlichtstreuung mit Bestimmung von Molekulargewicht und Zetapotential
 
Außerdem werden zwei Geräteneuheiten präsentiert: Das Horiba SZ-100 zur Nanopartikelanalyse mittels PCS, sowie der neue CAMSIZER XT, der feine Pulver ab 1 µm mit digitaler Bildverarbeitung analysiert.
 
Der Workshop findet an folgenden Terminen statt, die Teilnehmerzahl ist begrenzt:
 
> Montag, 27.09.10 in Basel (Schweiz)
> Mittwoch, 29.09.10 in Linz (Österreich)
> Donnerstag, 30.09.10 in München
> Freitag, 01.10.10 in Mannheim
> Dienstag, 05.10.10 in Köln
> Donnerstag, 07.10.10 in Hannover

Retsch Technology GmbH Rheinische Straße 36   I   42781 Haan   I   Germany
T +49 (0) 2 12 95 56 10   I   F+49 80) 21 29 87 02
mk@retsch.com   I   www.retsch-technology.de

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